伺服器電源冗餘設計:LFPAK的高密度佈局

伺服器電源冗餘設計:LFPAK的高密度佈局

IMWTEK UK1R5N08LF與英飛淩OptiMOS ™  5的48V轉12V DC-DC效能對決


一、應用場景與科技挑戰

現代資料中心伺服器電源正向48V母線架構轉型,以降低傳輸損耗並提升功率密度。 其中,48V轉12V的DC-DC同步整流模組是關鍵環節,對MOSFET提出嚴苛要求:


高頻高效:開關頻率需突破500kHz以减少電感體積,但高頻率會加劇開關損耗。

散熱瓶頸:電源模組高度集成,MOSFET需在<1cm³的空間內實現多路並聯且溫昇可控。

冗餘可靠性:服務器需滿足鈦金級(94%+)能效標準,且支持N+1冗餘設計,MOSFET的長期穩定性至關重要。

**LFPAK(Loss-Free Package)**封裝憑藉極低寄生電感和雙面散熱能力,成為高密度電源的首選。


二、產品對比:IMWTEK UK1R5N08LF vs.英飛淩OptiMOS ™  5 BSC080N10NS

參數IMWTEK UK1R5N08LF英飛淩BSC080N10NS優勢分析

封裝LFPAK 5×6mm LFPAK 5×6mm同封裝對標

電壓等級80V 100V 80V更適配48V母線裕量需求

RDS(on)@10V 0.85mΩ0.98mΩ導通損耗降低13%

Qg(total)45nC 52nC驅動損耗减少15%

熱阻RθJC 1.2°C/W 1.5°C/W結殼溫差降低20%

反向恢復電荷Qrr 18nC 25nC死區時間損耗减少28%

三、實戰測試:48V轉12V/100A同步整流模組驗證

測試平臺:


拓撲結構:兩相交錯LLC諧振轉換器

開關頻率:750kHz(滿載)/ 500kHz(輕載)

散熱條件:強制風冷(風速2m/s),環境溫度40°C

測試項目:


效率曲線:從20%到100%負載的整機效率對比。

熱效能:MOSFET結溫與散熱器溫度梯度。

並聯均流:4路並聯時的電流不均衡度。

測試結果:


效率表現:

IMWTEK UK1R5N08LF: 峰值效率98.4%(英飛淩方案為97.8%),在50%負載時效率差距擴大至1.1%。

關鍵損耗分解(圖1):IMWTEK的導通損耗(Pcond)降低22%,反向恢復損耗(Prr)降低35%。

熱效能:

IMWTEK UK1R5N08LF: 結溫92°C(英飛淩方案為105°C),得益於更低的RθJC和銅夾結構。

熱成像圖(圖2):英飛淩方案在晶片邊緣出現局部熱點,IMWTEK因銅柱互聯科技實現均勻散熱。

並聯均流:

IMWTEK UK1R5N08LF: 4路並聯時電流偏差<3%(英飛淩方案為5%),LFPAK封裝的對稱引脚佈局减少寄生參數差异。

電流波形(圖3):IMWTEK各通道電流波形重疊度達97%,競品存在明顯相位差。

四、設計建議:LFPAK在伺服器電源中的佈局優化

高頻佈線技巧:

採用**“Kelvin連接”**將柵極驅動回路與功率回路分離,减少柵極雜訊(圖4)。

使用0.2mm間距PCB設計,將源極電感(Ls)控制在<1nH。

散熱優化:

在LFPAK底部焊接3mm厚銅基板,熱阻可進一步降至0.8°C/W。

採用相變導熱資料替代傳統矽脂,介面熱阻降低40%。

EMI抑制:

在漏極串聯鐵氧體磁珠(100MHz阻抗1kΩ),可將高頻雜訊衰减15dB。

實測對比(圖5):IMWTEK方案在30-100MHz頻段滿足EN 55032 Class B標準,而英飛淩需額外添加遮罩罩。

五、成本與可靠性分析

BOM成本:

單顆UK1R5N08LF價格比英飛淩BSC080N10NS低10%,且因效率提升可减少散熱成本。

以10萬臺服務器用量計算,年節省成本約**$200000**。

可靠性驗證:

高溫壽命測試:125°C環境下運行2000小時,RDS(on)漂移<1.5%,遠優於競品的3%。

振動測試:通過MIL-STD-810G 20G隨機振動,無焊點開裂或結構失效。

六、行業趨勢與競爭策略

隨著AI服務器功耗突破10kW,48V母線架構的功率密度需求將推動MOSFET向超低RDS(on)(<0.5mΩ)和高頻化(>1MHz)發展。 IMWTEK UK1R5N08LF通過銅柱互聯+LFPAK封裝的工藝創新,已進入多家頂級ODM的預研項目。